asahi-spectra.co.jp
過去の出展情報|朝日分光株式会社
http://asahi-spectra.co.jp/tenji_info/tenji-rireki.htm
会場 北海道大学 札幌キャンパス 第1 第2体育館. FHL-101(100Wハロゲン光源) / 近赤外 赤外フィルター. 2013年 第74回 応用物理学会秋季学術講演会 付設展示会. 出展品 PVL-3300(分光感度測定用定エネルギー光源) / MAX-303(光化学研究用光源). 会場 立命館大学 びわこ くさつキャンパス. Nano tech 2013 第12回 国際ナノテクノロジー総合展 技術会議. 出展品 MIT-5000(インライン透過率システム) / STF-100H(分光干渉膜厚測定システム) /. 公益社団法人 日本セラミックス協会 2012年 年会. 2012年春季 第59回 応用物理学関係連合講演会 理化学 計測機材展. 出展品 PVL-3300 / HAL-320. 出展品 光DSC 波長選択光源 MAX-303. 出展品 UV-LEDファイバー光源LL-365 / キセノン光源 MAX-303. 出展品 フィードバック式分光光源 PVL-3300 / キセノン光源 MAX-303. 会場 大阪国際会議場 3F イベントホール. 会場 神奈川大学 横浜キャンパス 13号館.
roper.co.jp
CCDカメラ・分光器・画像解析の日本ローパー
http://roper.co.jp/seminar
2016年7月6日 水 8日 金. The 35th Electronic Materials Symposium. 2016年7月6日 水 8日 金. EELS School 2016 [Gatan事業本部]. 2016年6月14日 火 16日 木. 2016年5月24日 火 26日 木. 2016年3月19 金 22日 火. 2015年12月11日 金 12日 土. 2015年12月8日 火 10日 木. 2015年11月24日 火 27日 金. 2015年11月17日 火 19日 木. 2015年11月10日 火 12日 木. Gatan EELS School 2015 (日本電子(株). 2015年11月8日 日 19日 木. Wwwnips.ac.jp/struct/emworkshop2015.html. 2015年11月8日 日 13日 金. The 6th International Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-6). 2015年11月8日 日 13日 金. 2015年10月29日 木 30日 金. 2015年7月7日 火 10日 金.
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CCDカメラ・分光器・画像解析の日本ローパー
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2016年7月6日 水 8日 金. The 35th Electronic Materials Symposium. 2016年7月6日 水 8日 金. EELS School 2016 [Gatan事業本部]. 2016年6月14日 火 16日 木. 2016年5月24日 火 26日 木. 2016年3月19 金 22日 火. 2015年12月11日 金 12日 土. 2015年12月8日 火 10日 木. 2015年11月24日 火 27日 金. 2015年11月17日 火 19日 木. 2015年11月10日 火 12日 木. Gatan EELS School 2015 (日本電子(株). 2015年11月8日 日 19日 木. Wwwnips.ac.jp/struct/emworkshop2015.html. 2015年11月8日 日 13日 金. The 6th International Symposium on Growth of III-Nitrides ISGN-6). 2015年11月8日 日 13日 金. 2015年10月29日 木 30日 金. 2015年7月7日 火 10日 金.
optomater.kuee.kyoto-u.ac.jp
川上研究室のホームページへようこそ
http://www.optomater.kuee.kyoto-u.ac.jp/index.html
第8回 窒化物半導体結晶成長講演会 (京都大学, 桂キャンパス, 平成28年5月9-10日). 岸元克浩、Wu PeiTsen、船戸 充、川上 養一. 第8回 窒化物半導体結晶成長講演会 (京都大学, 桂キャンパス, 平成28年5月9-10日). 第8回 窒化物半導体結晶成長講演会 (京都大学, 桂キャンパス, 平成28年5月9-10日). GaN とAlN の物性定数の同定と(Al,Ga)N 系半導体の物性予測". Norwegian University of Science and Technologyの. III-V semiconductor nanowires grown on Si and graphene. AIP Advances Vol. 5, No. 11, 117115 (2015). Screw dislocation-induced growth spirals as emissive exciton localization centers in Al-rich AlGaN/AlN quantum wells". Radiative and Nonradiative Rec...
pi-j.jp
分光器・検出器・CCDの日本ローパーPI事業部
http://www.pi-j.jp/index.html
PI(プリンストン インスツルメンツ)事業部は、他社製品では検出することの出来なかった、X線から近赤外の極微弱光イメージング 分光測定 高速読み出しを可能にした、世界最高性能を誇る米国Princeton Instruments製品群を販売し、数々の最先端研究のサポートをしております。 640x512画素のInGaAs 赤外域2次元カメラが NIRvana ニルヴァーナ の新しい製品名にて発売開始されました。 900 1700nmで感度を持ち、640x512画素 20μm素子サイズ のセンサーです。 非点収差がゼロに近い320 焦点距離分光器 IsoPlane が発売されました。 27 x 8 mm のエリアサイズ全面での補正が完全設計されています。 直接検出型硬X線CCDカメラ PIXIS-XB 4機種発売開始 これまでのFIDD素子と比較し高効率とX線によるダメージを回避するワンボディー型カメラです。 The 35th Electronic Materials Symposium. Tel 03-5639-2741 Fax 03-5639-2775.