jeol-tcn.co.jp
翻訳と人材派遣の日本電子テクノサービス -幅広いビジネスモデルをご提案します-
ウェブサイトの外国語版 英語 中国語 ロシア語 への翻訳から、デザイン 制作までお受けいたします。 2018年2月22日 昭島 4月スタート WEB管理業務. 2018年2月13日 昭島 4月スタート 品質保証業務.
jeol.cn
jeol.cn - the domain is available for purchase
This domain name is for sale. If you would like to purchase this domain name, please click here. To make an offer. Escrow through 4.cn. Www4cn is a famous domain name escrow company in China. For the detail process, you can visit here. Or contact support@goldenname.com. The whole process needs about 5 working days. 通过 金名网(4.cn) 中介交易.
jeol.co.jp
日本電子株式会社 -Solutions for Innovation-
成膜関連機器 (電子銃 プラズマ源 他). 成膜関連機器 (電子銃 プラズマ源 他). 電子スピン共鳴装置(ESR)にER170007 材料のESR - 電気検出磁気共鳴 - を掲載しました. データ処理専用 Delta NMR Software for Processing 無料試用版がv5.2.1へバージョンアップ. 定期講習会 TEM/SEM/EPMA/MS/NMR の日程 4月 7月 を掲載しました. SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (東京). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (仙台). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (福岡). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (大阪). SEM EDSセミナー SEM EDS操作入門編 (名古屋). 走査電子顕微鏡 JSM-IT200 プレミアセミナー 西日本SC. INTRODUCTION TO JEOL PRODUCTS.
jeol.co.kr
JEOL Ltd.
Thin Film Production (DEPO). High-purity Metal Melting (EB). JEOL Korea 관련 Site. 서울대학교기초과학공동기기원 최첨단TEM 개소식 및 워크샵 일정. JEOL Korea Users Meeting 2015 - 감사의 말씀. JEOL Korea Users Meeting 2015 - 안내문(최종)/신청서. JEOL Korea Users Meeting 2015 - 프로그램(Draft)/신청서. JEOL Korea Users Meeting 2015 - 프로그램(Draft). 연세대학교 첨단분석워크숍(전자현미경분야) 개최 알림. 장시간 X-ray 맵핑 문제: JXA-8530F (2). 표면 미세오염에 대한 해석. 표면 미세오염에 대한 해석. CP 가공조건 관련 문의 (1). CP 가공조건 관련 문의. JEOL Korea 관련 Site.
jeol.com.br
JEOL BRASIL Instrumentos Cientiíficos Ltda > Home
JEOL is a leading global supplier of electron microscopes, ion beam instruments, mass spectrometers and NMR spectrometers. Welcome to JEOL Brasil. JEOL is a leading supplier of electron microscopes and scientific instrumentation. JEOL Ltd. headquarters are in Akishima, Japan with JEOL USA headquarters in Peabody, Massachusetts. JEOL Ltd and JEOL USA together established the office in São Paulo, Brasil to support its growing installed base in South America. The US. office serves the western hemisphere...
jeol.com.mx
JEOL de Mexico > Home
JEOL is a leading global supplier of electron microscopes, ion beam instruments, mass spectrometers and NMR spectrometers. Our product lines for imaging and analysis include:. High resolution electron microscopes, including a full range of scanning electron microscopes (SEMs) and transmission electron microscopes (TEMs). Analytical instruments, including a line of high-resolution mass spectrometers (mass spec), nuclear magnetic resonance (NMRs), and electron spin resonance (ESRs) instruments. JEOL instru...
jeol.cz
JEOL > O nás
Analýza povrchů (Augerové spektrometry, mikrosondy EPMA). Zařízení pro naprašování kovy a uhlíkem. Kontrola polovodičových desek pomocí SEM. Inspekční zařízení pro kontrolu přesnosti. Kontrola teploty instalačních místností. A New Communication Channel for NMR Division přečíst. Science class support přečíst. Rastrovací elektronové mikroskopy SEM. Transmisní elektronové mikroskopy TEM. Augerovské spektrometry a Elektronové mikrosondy. Integrovaný EDS pro SEM a TEM. ZAŘÍZENÍ PRO PŘÍPRAVU VZORKŮ.
jeol.de
Solutions for Innovation - JEOL (Germany) GmbH
Geowissenschaften, Bodenschätze, Energie und Ressourcen. Geowissenschaften, Bodenschätze, Energie und Ressourcen. Fahrzeug-, Luft- und Raumfahrttechnik. Fahrzeug-, Luft- und Raumfahrttechnik. Geowissenschaften, Bodenschätze, Energie und Ressourcen. Geowissenschaften, Bodenschätze, Energie und Ressourcen. Fahrzeug-, Luft- und Raumfahrttechnik. Fahrzeug-, Luft- und Raumfahrttechnik. Transmissionselektronenmikroskope (TEM). Transmissionselektronenmikroskope (TEM). Focused Ion Beam Systeme. Erschließen S...
jeol.fr
Microscopie électronique à balayage (MEB), microscopie électronique en transmission (TEM), préparation d’échantillons, spectrométrie de masse, spectrométrie RMN
Microscopes Electroniques à Balayage. Microscopes Electroniques en Transmission. FIB et MEB-FIB à double colonne. Analyse de Surface (Auger, microsondes EPMA). EDS Intégrée pour MEB et MET Jeol. Polisseur ionique - CP. Lithographie par faisceau d’électrons. Inspection de Wafer par MEB. Inspection de procédés de précision. Contrôle de l’environnement des salles. Contrôle en température de salle. Compensateur de champs magnétiques. X ray Fluorescence (JSX 1000S). Mise en service d'un nouveau. Compensateur ...
jeol.hu
JEOL > Főoldal
Fókuszált ionsugaras berendezés (FIB és kétsugaras SEM-FIB). Felületanalitikai berendezések (Auger, EPMA szondák). Integrált EDS berendezések TEM és SEM részére. Wafer ellenőrzés SEM rendszerrel. Bdquo;Üdvözöljük a JEOL (EUROPE) SAS. Honlapján. JEOL. A világ vezető elektronoptikai berendezések, analitikai készülékek, mintaelőkészítő eszközök gyártója. Vevőink igényeinek megfelelő, konkrét és személyre szabott a megoldásokat ajánlunk a tudomány minden ter&u...FIB és a FIB-SEM, kettős oszlop.
jeol.it
JEOL > Home
Strumenti di Ottica Elettronica. Microscopi Elettronici a Scansione (SEM). Microscopi Elettronici a Trasmissione (TEM). FIB e Dual Beam. Analisi Superficiale (Auger, Microsonde EPMA). EDS SDD per SEM e TEM JEOL. Cross Section Polisher (CP). Litografia con Fascio Elettronico. Ispezione di wafer madiante SEM. Ispezione di Processi di Precisione. Risonanza Magnetica Nucleare (NMR). Compensatori di Campi Magnetici. Spettrometria a raggi X. Fluorescenza a raggi X. Benvenuti nel sito di JEOL. FIB e Dual Beam.